〈特別講演会〉歴史的資料の科学的な分析法


6月20日、蛍光エックス線やシンクロトロン光など、最先端の科学技術を用いた歴史史料・文化財分析の有効性を考えるため、3人の講師をお招きして講演会を開催いたしました。




田端　正明先生（佐賀大学）「シンクロトロン光を用いる微量局所分析」





脇田　久伸先生（福岡大学）「軽元素のX線吸収スペクトルのマッピングをめざす試み」





下山　進先生（吉備国際大学）「文化財を科学の目で探る−文化財の非破壊分析法−」





当日は、50人以上の方にご参加いただき、活発な議論ができました。有り難うございました。