〈特別講演会〉
歴史的資料の科学的な分析法
（九州地区ナノテクノロジー拠点ネットワーク平成20年度第1回講演会）
蛍光エックス線やシンクロトロン光など、最先端の科学技術が歴史資料・文化財の分析にどこまで有効か。さらにその成果を、文献／古文書中心の歴史学研究がどう受け止めるか。文理融合の総合的歴史研究追求の第一歩として、講演会を開催いたします。
日 時：平成20年6月20日（金） 14:00〜16:30
会 場：佐賀大学理工学部６号館多目的ホール
※学生・市民の皆さまも、ぜひご参加下さい（入場無料）
講師（講演順、敬称略）
田端 正明（佐賀大学）
「シンクロトロン光を用いる微量局所分析」
脇田 久伸（福岡大学）
「軽元素のX線吸収スペクトルのマッピングをめざす試み」
下山 進（吉備国際大学）
「文化財を科学の目で探る−文化財の非破壊分析法−」
※講演会後、懇親会を開催いたします（佐賀大学かささぎホール、会費未定）。ご出席いただける方は、当日担当者までお知らせ下さい。
主催：佐賀大学地域学歴史文化研究センター
シンクロトロン光応用研究センター
お問い合わせ先：佐賀大学地域学歴史文化研究センター
ＴＥＬ／ＦＡＸ 0952-28-8378
Ｅ−ｍａｉｌ